l 仪器简介：

原子力显微镜(Atomic force microscopy，AFM)是一种以物理学原理为基础，通过扫描探针与样品表面原子相互作用而成像的新型表面分析仪器。

l 仪器参数：

Icon扫描器：

    90um x 90um x 10um；XYZ三方向闭环控制；

FastScan扫描器：

    35um x 35um x 3um；XYZ三方向闭环控制；XY方向最大扫描速度：>2mm/s；Z方向最大扫描速度：12mm/s。

l 仪器功能应用：

• 生物样品表面在纳米尺度下进行观测形貌及力学等物理特性测试；

• 在分子水平上实时动态地研究结构与功能的关系；

• 对溶液中生物分子表面的各种相互作用力进行测量；

• 在材料科学、纳米生物、物理学、化学、电子学、半导体等领域中的相关应用，对金属、半导体、陶瓷、有机物、高分子等样品表面在纳米尺度下进行观测形貌及力学等物理特性测试。