l 仪器简介

扫描电子显微镜（SEM）是一种介于透射电子显微镜和光学显微镜之间的一种观察手段。其利用聚焦的很窄的高能电子束来扫描样品，通过光束与物质间的相互作用，来激发各种物理信息，对这些信息收集、放大、再成像以达到对物质微观形貌表征的目的。

l 仪器参数：

加速电压：200V-30KV

高真空模式： 3.0nm @ 30kV, 8nm @ 3kV

低真空模式 ：3.0nm @ 30kV, 10nm @ 3kV

环境真空模式 ：3.0nm @ 30kV

背散射电子： 4.0nm @ 30kV

帕尔帖控温台：-20°C  到 60°C

l 仪器功能应用：

• 生物样品微观形貌、结构，样品的微区元素成份及线分布、面分布；

• 自然状态下生物材料的原位研究；

• 材料、金属、陶瓷、矿物、水泥、半导体、纸张、塑料、等材料的显微形貌分析。